OffenAusschreibung · 16LieferauftragAMP / GPATED 115/2026

Erneuerung Rasterelektronenmikroskop (FEI XL30)

Veröffentlichung (ABl.)

17.06.2026

Einreichungsfrist

20.07.2026 12:00

Geschätzter Auftragswert

274.790 € – 275.000 €

Vertragslaufzeit

4.0 Monate

Verfahrensart

Offenes Verfahren

Sitz des Auftraggebers

Magdeburg (39106) — DEE03

Beschreibung

Das zu erneuernde Gerät (Philips/FEI XL30 ESEM mit FE-Kathode) wurde 2003/2004 beschafft, befindet sich seitdem unverändert in Nutzung und ist die zentrale Struktur der Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg (OVGU) integriert worden. Insbesondere die Software (Windows-Versionen 2000 bzw. XP, REM-Steuerungssoftware, EDX/EBSD-Software etc.) und die Analytik-Hardware (EDX- und EBSD-Detektoren) befinden sich derzeit weiterhin auf dem Stand der Anschaffung.

CPV-Codes

38511100

Lose (1)

LOT-0000Erneuerung Rasterelektronenmikroskop (FEI XL30)
274.790 €

1 Stück Erneuerung eines Rasterelektronenmikroskops FEI XL30 gem. Leistungsverzeichnis Einsendeschluss Bieterfragen: 03.07.2026, 12 Uhr

385111004 Monate

Zuschlagskriterien

Preis

Nachprüfungsverfahren

Nachprüfungsstelle

Landesverwaltungsamt Sachsen-Anhalt, 3. Vergabekammer — Halle / Saale

Ein Nachprüfungsantrag ist gemäß § 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 4 GWB unzulässig, soweit mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Weiter wird auf die Rügeobliegenheiten gemäß § 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 1 bis 3 GWB und die - gegebenenfalls verkürzte - Frist des § 134 Abs. 2 GWB hingewiesen.

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